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測量方法:目前bai測量Zeta電位du的方法主要有電泳法、zhi電滲法、流動電位法dao以及超聲波法zhuan,其中shu以電泳法應用廣。Zeta電位的重要意義在于它的數值與膠態分散的穩定性相關。Zeta電位是對顆粒之間相互排斥或吸引力的強度的度量。分子或分散粒子越小，Zeta電位（正或負）越高，體系越穩定，即溶解或分散可以抵抗聚集。反之，Zeta電位（正或負）越低，越傾向于凝結或凝聚，即吸引力超過了排斥力，分散被破壞而發生凝結或凝聚。Zeta電位與體系穩定性之間的大致關系...

Zeta電位分析儀是一種創新的zeta電位分析儀，專門用于表征納米顆粒懸浮液。它基于重新審視的現代版激光多普勒電泳（LDE）技術，提供*且的測量分辨率。它是Cordouan的VASCO粒度分析儀的補充，用于研究膠體溶液的穩定性和性質。新產品由新型的光學系統、電泳池、數據采樣和數據處理等部分組成，實現了由PC個人微機對采樣模塊的控制及后期數據處理的一體化設計，與其它同類產品相比，它具有更多的優異性能。Zeta電位儀可用于測定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測量...

納米粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器，采用數字相關器的納米激光粒度儀，其采用高速數字相關器和高性能光電倍增管作為核心器件，具有操作簡便、測試快捷、高分辨、高重復及測試準確等特點，是納米顆粒粒度測試的產品。原理先進的測試原理：本儀器采用動態光散射原理和光子相關光譜技術，根據顆粒在液體中布朗運動的速度測定顆粒大小。具有原理先進、精度*的特點，從而保證了測試結果的真實性和有效性。高靈敏度與信噪比：本儀器的探測器采用專業級高性能光電倍增管（PMT），對光子信號具...

原理光是橫電磁波，是一種在各個方向上振動的射線。其電場矢量E與磁場矢量H相互垂直，且與光波傳播方向垂直。由于產生感光作用的主要是電場矢量，一般就將電場矢量作為光波的振動矢量。光波電場矢量與傳播方向所組成的平面稱為光波的振動面。若此振動面不隨時間變化，這束光就稱為平面偏振光，其振動面即稱為偏振面。平面偏振光可分解為振幅、頻率相同，旋轉方向相反的兩圓偏振光。其中電矢量以順時針方向旋轉的稱為右旋圓偏振光，其中以逆時針方向旋轉的稱為左旋圓偏振光。兩束振幅、頻率相同，旋轉方向相反的偏振...

納米粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器，采用數字相關器的納米激光粒度儀，其采用高速數字相關器和高性能光電倍增管作為核心器件，具有操作簡便、測試快捷、高分辨、高重復及測試準確等特點。原理先進的測試原理：本儀器采用動態光散射原理和光子相關光譜技術，根據顆粒在液體中布朗運動的速度測定顆粒大小。具有原理先進、精度*的特點，從而保證了測試結果的真實性和有效性。高靈敏度與信噪比：本儀器的探測器采用專業級高性能光電倍增管（PMT），對光子信號具有*的靈敏度和信噪比，從而...

粒度分布的定義所謂粒度分布，就是粉體樣品中各種大小的顆粒占顆粒總數的比例。當樣品中所有顆粒的真密度相同時，顆粒的重量分布和體積分布一致。在沒有特別說明時，儀器給出的粒度分布一般指重量或體積分布。1.公式法表達粒度分布：Rosin-Rammler公式：W(x)=1-exp[-(x/De)^N]式中，De是與x50(中位徑)成正比的常數，N則決定粒度分布的范圍，N越大，力度分布范圍越窄，表示樣品中顆粒分布的均勻性越好。2.中位徑：中位徑記作x50,表示樣品中小于它和大于它的顆粒各...

阻抗分析儀是一種電子測試儀器。它可以測量復數電阻隨測試頻率的變化。阻抗是表征電子元器件，電子電路和元件材料的一個很重要的參數。另外，阻抗分析可以還被應用到介電材料，比如生物組織，食品和地質樣本中。原理阻抗分析儀是一種能夠測量復數電阻抗隨頻率變化的儀器。它的原理是通過相敏檢測，同時測量器件在掃頻測試過程中的電流和電壓。阻抗分析儀的主要參數分別是頻率范圍，阻抗范圍，阻抗幅值的精度和相位精度。更進一步的還包括測量速度，以及在測試中施加電壓或者電流偏置的功能。阻抗分析儀測得的阻抗包含...

Zeta電位儀94年推出的新一代測試儀器的改進型，新產品由新型的光學系統、電泳池、數據采樣和數據處理等部分組成，實現了由PC個人微機對采樣模塊的控制及后期數據處理的一體化設計，與其它同類產品相比，它具有更多的優異性能。產品應用：1.半導體研究半導體晶體表面殘留雜質與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機制。2.醫藥和食品行業乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究（如食品、香水、藥品和化妝品），蛋白質功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究（微囊）。3.陶瓷和顏料...